仪器品牌：HORIBA

型号：SZ-100Z2

仪器国别：日本

放置地址：温州大学南校区10C422

管理员联系方式：15356474779（沈宁）

邮箱：1669709930@qq.com

仪器简介

Horiba SZ-100Z2是高端纳米粒子分析仪，专为纳米材料表征设计，集成粒径、Zeta电位、分子量三大核心参数同步分析功能。采用动态光散射（DLS）、激光多普勒电泳及静态光散射技术，凭借双光学检测系统与Horiba专利微型样品池设计，实现样品的直接测量，无需复杂预处理。设备体积紧凑、操作便捷，广泛应用于制药、化妆品、食品、新材料、生命科学等领域，可满足科研与工业生产中纳米粒子分散稳定性评估、配方优化及质量控制需求。

主要功能

1. 多参数同步表征。单次测量可获取粒子粒径分布、Zeta电位及绝对分子量（Mw）、第二维里系数（A₂），全面解析纳米粒子物理化学特性，无需更换仪器或样品池。
2. 宽范围粒径分析。基于动态光散射技术，支持2.0nm~100μm粒径测量（视样品特性略有差异），通过90°与173°双角度检测模式，适配弱散射样品（如聚合物、蛋白质）和高浓度样品（如浆料、油墨颜料）的精准分析。

3. 高稳定性Zeta电位检测。采用激光多普勒电泳原理，搭配Horiba专利碳电极微型池，抗高盐样品腐蚀（如生理盐水），样品需求量低至100μL，可直接测量-500~+500mV 范围内的Zeta电位，用于预测分散体系稳定性及配方优化（如等电点测定）。

4. 智能样品适配。兼容商用标准样品池，支持0~20S/m电导率范围样品测量，高浓度样品无需稀释，显著降低预处理误差，常规测量周期仅需约3分钟，提升分析效率。

核心参数

1. 粒径测量

基于动态光散射法检测设计：采用90°+173°双角度检测，适配高低浓度及强弱散射样品测量范围：2.0nm~100μm（视样品特性略有差异）重复性：常规样品条件下可控制在<2%。

2. Zeta电位检测

依托激光多普勒电泳原理核心配置：搭配Horiba专利防腐蚀碳电极微型池测量范围：可直接测量-500~+500mV范围内的电位值电导率适配：0~20S/m，兼容高盐样品（如生理盐水）样品体积：单次检测仅需≥100μL3. 测量效率单次测量时间：约3分钟（含数据处理与结果输出）优势：可高效满足各类分析需求4. 核心技术关键设计：双光路检测角度、专利碳电极设计作用：既保障不同类型样品的检测精准度，又能延长电极使用寿命。